Murguía Serrano, J. Y.; De la Toba Noriega, C. E.; Campos Zatarain, S.; Aramburo Contreras, L. Y.; Diaz Lucas, G. Ángel. Deepfakes: Revisión sistemática De tecnologías, Impacto Y Estrategias De detección. RITI 2025, 13, 19-37.